半導体テストシステム

パワーミックスドテストシステム

【対象デバイス】 車載用IPD/IPMなど

パワーデバイスにデジタル制御やメモリ混在したデバイスまたは、モジュールを 1台のシステムにて測定することができます。

【WL25MXL】

   
 
仕様(測定項目)
  • パラレル測定が可能
  • アナログピン 64V/1.5A  192CH
  • デジタルピン 50MHz    64CH
  • 高圧 V/I   2000V/20mA
  • 大電流V/I 60V/10A,30V/30A,16V/100A
  • タイム、DSP(Audio/Video)
【WL25MXS】

   
 
仕様(測定項目)
  • パラレル測定が可能
  • アナログピン 64V/1.5A  128CH
  • デジタルピン 50MHz    64CH
  • 搭載モジュール
  • 高圧 V/I   2000V/20mA
  • 大電流V/I   60V/10A,30V/30A
  • タイム、DSP(Audio/Video)
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