半導体テストシステム

ミックスドシグナルLSIテストシステム

【対象デバイス】車載向けデバイス、電源IC、バッテリー管理IC、各種ドライバーICなど

WL27 ロジック・パワー混在型LSIテストシステム シリーズに、多ピン化されたNEWモデルが登場。 車載用・モータドライバなどA/D混在型のパワーデバイスの同時測定に最適です。高スループット・ハイコストパフォーマンスを追求したベストソリューションのミックスドシグナルLSIテストシステムです。

【WL27/WL27H】

仕様
  Detection/検出 
Test Rate: 20/40 MHz
Digital Pins: 256 pins、256 PPS (WL27H)
128 pins、128 PPS (WL27)
DSP Module AFG: 16 bits/10 Msps
DSP Module ADGT: 16 bits/10 Msps
DSP Module VFG: 14 bits/240 Msps
DSP Module VDGT: 14 bits/80 Msps
High Power V/Iソース: ±60 V/±10 A搭載可能
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