ミックスドシグナルLSIテストシステム
WL27/WL27H ミックスドシグナルLSIテストシステム
【対象デバイス】車載向けデバイス、電源IC、バッテリー管理IC、各種ドライバーICなど
WL27 ロジック・パワー混在型LSIテストシステム シリーズに、多ピン化されたNEWモデルが登場。 車載用・モータドライバなどA/D混在型のパワーデバイスの同時測定に最適です。高スループット・ハイコストパフォーマンスを追求したベストソリューションのミックスドシグナルLSIテストシステムです。
【WL27/WL27H】
仕様
| Detection／検出 | |
|---|---|
| Test Rate: | 20/40 MHz |
| Digital Pins: | 256 pins、256 PPS (WL27H) |
| 128 pins、128 PPS (WL27) | |
| DSP Module AFG: | 16 bits/10 Msps |
| DSP Module ADGT: | 16 bits/10 Msps |
| DSP Module VFG: | 14 bits/240 Msps |
| DSP Module VDGT: | 14 bits/80 Msps |
| High Power V/Iソース: | ±60 V/±10 A搭載可能 |
WL27Prime ミックスドシグナルLSIテストシステム
100MHz 1024 I/O LSIからマイコン内蔵パワーデバイスまで対応可能な新製品です。
【WL27Prime】
特徴
- 100MHzデジタルを1024pinまで実装可能
- 最大同時測定 128個
- マルチパターンジェネレータ、SCAN、ALPG機能搭載
- PMU、TMUをパーピンで実装
- WL25で実績のある各種モジュール実装可能
- 大電流、高電圧モジュール実装でパワーデバイス対応
仕様
- 100MHz 1024 I/Oデジタル
- 64V/1.5A
- 16V/100A
- 2000V/100mA