マルチテストシステム
ウェーハ同時測定システム
WL15VW+パワーデバイスBOX パワー半導体ウェーハ同時測定システム
【対象デバイス】IGBT, MOSFET, SBD, FRD, IPM, IPD, Chip
【WL15VW+パワーデバイスBOX】
2000V/30A ４個同時測定仕様例
- ＋2000V/±20mA
- ±128V/±5A
- ±60V/±30A
- ±64V/±160mA
- 最大３２個同時測定可能
高電圧/大電流パワー半導体テストシステム
WL25MV マルチステージ高電圧/大電流パワー半導体テストシステム
【対象デバイス】IGBT / MOSFET モジュール、チップ
【WL25MV】
8マルチステージ対応 （AC測定/DC測定ステージ）
- データを集中管理・制御 （マルチプロダクト Window）
- 安定した生産環境のご提供
- 過電流保護機能搭載し、動特性試験におけるデバイス破壊を阻止します。
コンパクトマルチテストシステム
【対象デバイス】車載用センサー、車載用レギュレータICなど
1台のシステムで最大4ステージの非同期測定が可能です。本体部が非常にコンパクトにて、ハンドリングマシンの直近に接続できます。本体内部にアプリケーションエリアを設けており、本体から接続されるケーブルを低減しております。
【SCV66MX】
仕様
- 高圧 V/I 2000V/20ｍA
- 大電流 V/I 16V/100A
- タイム