半導体テストシステム

アナログICテストシステム

WL25V アナログICテストシステム

【対象デバイス】車載向けデバイス、電源IC、バッテリー管理IC、各種ドライバーICなど

国内トップブランドのWL25シリーズにパラダイムシフトを起こしました。WL25Vのアナログピンスライスアーキテクチャーにより極めてシンプルなシステム構成が可能になりました。広範囲にアナログICをカバーするアーキテクチャーは、さらに高精度でありながら、高速で且つ同時測定機能も充実した、優れたコストパフォーマンスを提供します。

【WL25V】

   
 
仕様
  • 同時測定: 最大32サイト
  • アナログCH : 256ch (64V/1.5A)
  • デジタルCH : 256ch (5M to 50M)
  • 時間測定機能
  • 任意波形機能
  • デジタイザー機能

WL15V/SCV66 アナログICテストシステム

【対象デバイス】民生機器オーディオ、オペアンプ、DC-DC、バッテリー管理ICなど

WL15Vは、多様なお客様のニーズに最適な構成を提供できるハイパフォーマンスのコンパクトなアナログICテストシステムです。

【WL15V】

   
 
仕様
  • 同時測定: 32サイト
  • アナログCH : 64ch (64V/320mA)
  • デジタルCH : 32ch (5M to 50M)
  • 時間測定機能
  • オーディオ測定機能
【SCV66】

   
 
仕様
  • 同時測定: 16サイト
  • アナログCH : 32ch (64V/320mA)
  • 時間測定機能
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